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掃描電鏡是一種用途廣泛的科學(xué)研究儀器,是通過電子束來成像的,，其放大倍數(shù)可達(dá)幾十萬倍，分辨率可達(dá)納米級(jí)別，是形貌和成分分析領(lǐng)域極其重要的一種工具。$n掃描電鏡測(cè)試項(xiàng)目：$nSEM：形貌觀察，利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來成像，可放大倍率5-100萬倍 。$nEDS：成分分析（半定量），通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息，測(cè)量Be及以上元素。

SEM掃描電鏡檢測(cè)是一種在材料科學(xué)和納米科學(xué)領(lǐng)域中廣泛使用的設(shè)備，其能力使它成為研究微觀結(jié)構(gòu)和性能的重要工具。